Российская конференция «Рентгеновские методы исследования веществ и материалов» в ИОНХ РАН

Организаторы конференции:
 • Министерство образования и науки РФ;
 • Отделение химии и наук о материалах Российской академии наук;
 • Научный совет по неорганической химии Российской академии наук;
 • Институт общей и неорганической химии им. Н.С.Курнакова Российской академии наук (ИОНХ РАН).

Секции конференции:
Секция 1. Дифракция рентгеновского излучения:
1.1. Монокристальная дифракция;
1.2. Порошковая дифракция.
Секция 2. Рентгеновская рефлектометрия и малоугловое рассеяние рентгеновских лучей.
Секция 3. Рентгеновская эмиссионная спектрометрия:
3.1. Рентгенофлуоресцентный анализ;
3.2. Электронно-зондовый рентгеноспектральный микроанализ.
Секция 4. Применение синхротронного излучения. Рентгеновская спектрометрия поглощения (XANES и EXAFS).
Секция 5. Рентгенофотоэлектронная спектрометрия.
Секция 6. Рентгеновская томография.

Пленарные заседания, заседания секций и постерная сессия будут проходить в ИОНХ РАН (г. Москва, Ленинский проспект, д.31).

Подробная информация о мероприятии и контакты организаторов в анонсе конференции