Контакты
-
Адрес: Москва, Ленинский пр. 31
-
Email: hia@igic.ras.ru

С 20 по 24 апреля 2026 года на базе ИОНХ РАН (Москва) состоится I-ая Российская конференция «Рентгеновские методы исследования веществ и материалов».
В программу конференции включены работы в области рентгеновской спектрометрии поглощения, в частности спектрометрия главного края рентгеновского поглощения (XANES) и исследование дальней тонкой структуры рентгеновских спектров поглощения (EXAFS). Применению синхротронных источников во всех видах рентгеновской спектрометрии будет посвящена отдельная секция. В рамках специальной секции будут обсуждаться проблемы рентгеновской рефлектометрии и применения для диагностических целей малоуглового рассеяния рентгеновских лучей.
Секции конференции:
• Дифракция рентгеновского излучения:
◦ Монокристальная дифракция;
◦ Порошковая дифракция.
• Рентгеновская рефлектометрия и малоугловое рассеяние рентгеновских лучей.
• Рентгеновская эмиссионная спектрометрия:
◦ Рентгенофлуоресцентный анализ;
◦ Электронно-зондовый рентгеноспектральный микроанализ.
• Применение синхротронного излучения. Рентгеновская спектрометрия поглощения (XANES и EXAFS).
• Рентгенофотоэлектронная спектрометрия.
• Рентгеновская томография.
Ключевые даты:
• 27 февраля – окончание приёма тезисов докладов
• 20 марта – окончание регистрации и приёма оргвзносов
• 20-24 апреля – рабочие дни конференции
Организационный взнос:
• студенты и аспиранты – 3 500 ₽
• прочие участники – 7 000 ₽
Подробная информация о мероприятии, форма регистрации, шаблон тезисов и контакты организаторов опубликованы на сайте конференции